
מערכת בדיקה שולחנית רב-תכליתית (Benchtop In-Circuit Tester)
פתרון בדיקה פשוט, חכם ומשתלם
3030BT היא מערכת ICT שולחנית מתקדמת מבית SPEA המיועדת לביצוע בדיקות In-Circuit ובדיקת Open Pin לאיתור תקלות תהליך ופגמים מבניים בעלות נמוכה במיוחד.
המערכת כוללת את כל היתרונות של סדרת SPEA 3030 אך בגודל שולחני קומפקטי המתחבר למחשב אישי או נייד דרך USB וכולל תמיכה מלאה בג'יגים קיימים. אידיאלית למעבדות פיתוח, מרכזי תיקון, או ייצור סדרתי בהיקפים קטנים.
יתרונות מרכזיים
בדיקות נתמכות
In-Circuit Test
איתור קצרים, מעגלים פתוחים, רכיבים לא נכונים, רכיבים הפוכים, דיודות, טרנזיסטורים, ICs.
Open Pin Scan
זיהוי פגמים מבניים כמו קוטביות שגויה, קבלים הפוכים, מחברים לא מורכבים, ועוד.
קל. מהיר. מוכן לבדיקה.
מערכת ההפעלה Leonardo מייצרת באופן אוטומטי את תכנית הבדיקה. מספר שלבים פשוטים – מייבוא הנתונים ועד תחילת בדיקות – והמערכת מוכנה לעבודה.
תחומי יישום
