4020

SPEA 4020 - מערכת Flying Probe לבדיקה חשמלית ללא מתאם ייעודי (Fixtureless)

מערכת מתקדמת לבדיקות חשמליות של כרטיסים אלקטרוניים בשלבי NPI, פיתוח וייצור סדרות קטנות.
4020 מספקת בדיקה מדויקת, גמישה ורחבת היקף – ללא צורך במתאם בדיקה ייעודי – ומוכנה לעבודה בתוך דקות.

יתרונות עיקריים

• בדיקה ללא מתאם – חיסכון בעלויות פיתוח, תחזוקה והחלפה של JIGs
• דיוק גבוה במיוחד – מבוסס מנועים לינאריים ומדי מיקום אופטיים על כל צירי XYZ
• גמישות בתצורת טעינה – טעינה ידנית או אוטומטית, תואם Hermes/SMEMA
• תמיכה בכרטיסים עד גודל 1,000X400 מ"מ
• כיסוי בדיקה מלא גם לרכיבים שלא ניתנים לבדיקה חשמלית
• זמן בדיקה קצר – טכנולוגיית Force & Measure ישירה על הפרובים חוסכת זמן ומעלה את דיוק המדידה

מפרט טכני

סוגי בדיקות נתמכות

• בדיקת רכיבים פסיביים ואקטיביים: נגד, קבל, דיודה, טרנזיסטור, ריליי ועוד
• בדיקות קצרים (All Nets Shorts) – מדידה מדויקת של אימפדנס לזיהוי קצר מכל נט לכל האחרים
• בדיקת Open Pins (Junction/Electroscan)
• Nodal Impedance Test  - לאיתור תקלות ברמת I/O ללא הדלקת הכרטיס
• בדיקות Power ON – רגולטורים, אופ-אמפים, לוגיקה, DC-DC, השוואות, ועוד
• בדיקות פונקציונליות – כולל בדיקות WATCHDOG ,תדרים, PWM, Logic
• בדיקות אופטיות – נוכחות, כיוון רכיבים, זיהוי תווים, ברקודים
• בדיקות לייזר -  Tombstone,  גובה רכיבים, רגליים כפופות
• בדיקות תרמיות – מצלמה תרמית לזיהוי נקודות חמות
• בדיקות תאורה – מדידת צבע, עוצמה, XY Chromaticity
• צריבת רכיבים OBP - JTAG, SPI, UART, BDM, עם ספריית דרייברים רחבה
• בדיקות Boundary Scan - משולב עם ICT